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磁粉探伤仪CDX-III


产品概述:
磁粉检测技术是最常用的无损检测方法之一,它主要检测铁磁性材料表面和近表面的缺陷。表面缺陷的危害性比内部缺陷危险性更大,因此,表面缺陷的检测刻不容缓。
磁粉检测发现的缺陷都是微米级的缺陷,磁粉照明装置显得尤为重要,我公司在原有仪器的基础上,对以往产品的照明部分做了很大的改进,采用了高亮度LED照明装置,亮度强,不易爆破,让缺陷无处可逃。
产品特点:
灵敏度高,国家A1型试片能全部清晰显示。(如照片所示)
磁粉游动性好,易于吸附在缺陷表面。
采用高亮度LED照明,避免了以往缺陷漏检现象。
采用高亮度LED照明后,光源不会因磁悬液的飞溅而爆破。
携带方便,方便高空、野外作业。
探伤后不需要退磁。
技术参数
提升力:交流磁轭≥10Kg,带活关节时≥7Kg,旋转磁场≥10Kg(被探工件表面与探头端面气隙≤1.5mm)。
探头极距:交流磁轭(D型)探头,固定式为155mm,带活关节时50∽200mm可调,旋转磁场(E型)两相邻探头铁芯中心距为125mm,磁钳型(A型)探头0∽170mm,环型(O型)探头Φ90mm,约2000AT。
探头工作电压:均为38V 。
灵敏度:磁轭,旋转磁场,磁钳型和环型探伤时均可清晰显示30/100A型标准试片上的人工刻槽。